XFL6(贵金属标配)型能量色散X射线荧光分析仪

XFL6(贵金属标配)是一款化验室常用的元素快速分析仪器,  具有玻璃窗光管耐用,  si半导体探测器分辨率较正比计数器优, 

• 产品描述

同时背景更低,  检出限大大提高的特点,  以及下照式大容量样品腔,  可满足各种形状样品的测试需求,  多种准直器和滤光片的切换组合,  可满足各种检测方案的应用,  多道搭载高分辨率探测器和研发的光路系统,  性能稳定可靠。 同时搭载研发的智能操作系统,  操作简单,  只需开盖、 放入样品、 关盖、 点击检测即可完成一次样品分析,  *限度的减低人为误差,  仪器环境适应性强,  无需配备稳压装置,  维护成本极低,  安全可靠,  多重保护及联动机制,  保证仪器正常测试过程中与环境本底辐射无差异。贵金属主要指金、银和铂族金属元素(钉、钱、钯、锻、钛、铂)。

XFL6可以检测常见金、 银、 铂、 钯、 钱、 铜、 铁、 镍、 ⃞、 锌、 钛、 钉、 钱等多种金属元素含量仪器采用si半导体探测器分辨率远远好于国标GB18043-2013的要求

应用领域

首饰加工厂、 银行、检测机构、 贵重金属回收、 典当公司, 高校等。

高精度分析

采用*的检测技术和高灵敏度的探测器,  能够对各种样品进行的元素分析,  准确测定元素的种类和含量。

快速检测

在短时间内即可完成样品分析, 大大提高了检测效率,  满足实验室和工业现场的快速分析需求。

广泛适用性

可分析固体、 粉末、液体等多种形态的样品,适用于地质、  冶金、 环保、 材料科学等多个域。
操作简便

仪器配备智能化的操作软件,  界面友好,  易于操作,  即使非*人员也能快速上手。
稳定性强

经过严格的质量控制和优化设计,  具有*的稳定性和可靠性, 确保长期稳定的分析性能。

特点:   玻璃窗光管耐用,si半导体探测器,  分辨率较正比计数器优, 同时背景更低,检出限大大提高